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Properties of epitaxial, (001)- and (110)-oriented (PbMg1/3Nb2/3O3)2/3-(PbTiO3)1/3 films on silicon described by polarization rotation 1-gen-2016 Boota, Muhammad; Houwman, Evert P.; Dekkers, Matthijn; Nguyen, Minh D.; Vergeer, Kurt H.; Lanzara, Giulia; Koster, Gertjan; Rijnders, Guus
Effect of fabrication conditions on phase formation and properties of epitaxial (PbMg1/3Nb2/3O3)0.67-(PbTiO3)0.33 thin films on (001) SrTiO3 1-gen-2016 Boota, Muhammad; Houwman, Evert P.; Nguyen, Minh D.; Lanzara, Giulia; Rijnders, Guus
Effect of a thin (doped) PZT interfacial layer on the properties of epitaxial PMN-PT films 1-gen-2020 Boota, M.; Houwman, E. P.; Lanzara, G.; Rijnders, G.
Effect of a niobium-doped PZT interfacial layer thickness on the properties of epitaxial PMN-PT thin films 1-gen-2023 Boota, M.; Houwman, E. P.; Lanzara, G.; Rijnders, G.
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