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Trace-element XAFS sensitivity: A stress test for a new XRF multi-detector 1-gen-2021 Carlomagno, I.; Antonelli, M.; Aquilanti, G.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Cautero, G.; Cirrincione, D.; De Giudici, G.; Ficorella, F.; Gandola, M.; Giuressi, D.; Medas, D.; Mele, F.; Menk, R. H.; Olivi, L.; Orzan, G.; Picciotto, A.; Podda, F.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Stebel, L.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.; Meneghini, C.
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