F., E., DI GASPARE, L. (1998). The photoelectric yield technique for the characterization of the semiconductor interfaces. IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ ITALIANA DI FISICA. B, GENERAL PHYSICS, RELATIVITY, ASTRONOMY AND MATHEMATICAL PHYSICS AND METHODS, 20, 999.

The photoelectric yield technique for the characterization of the semiconductor interfaces

DI GASPARE, LUCIANA
1998-01-01

1998
F., E., DI GASPARE, L. (1998). The photoelectric yield technique for the characterization of the semiconductor interfaces. IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ ITALIANA DI FISICA. B, GENERAL PHYSICS, RELATIVITY, ASTRONOMY AND MATHEMATICAL PHYSICS AND METHODS, 20, 999.
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