SALVATI, ELISA
SALVATI, ELISA
Dipartimento di Studi Internazionali (attivo dal 01/07/2008 al 31/12/2012)
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Nano-scale residual stress profiling in thin multilayer films with non-equibiaxial stress state | 1-gen-2020 | Sebastiani, M.; Rossi, E.; Mughal, M. Z.; Benedetto, A.; Jacquet, P.; Salvati, E.; Korsunsky, A. M. |