PICCOLI, MATTIA

PICCOLI, MATTIA  

Dipartimento di Ingegneria Meccanica e Industriale (attivo dal 01/07/2008 al 31/12/2012)  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
(1011) preferential orientation of polycrystalline AlN grown on SiO2/Si wafers by reactive sputter magnetron technique 1-gen-2016 Bürgi, Juan; Molleja, Javier García; Bolmaro, Raúl; Piccoli, Mattia; Bemporad, Edoardo; Craievich, Aldo; Feugeas, Jorge
Behavior of nitrided and carburized AISI 904 L stainless steels under severe light ion beam irradiation with plasma focus 1-gen-2015 García Molleja, J.; Milanese, M.; Gómez, B. J.; Moroso, R.; Piccoli, Mattia; Niedbalski, J.; Bürgi, J.; Bemporad, Edoardo; Feugeas, J.
Depth profiling and morphological characterization of AlN thin films deposited on Si substrates using a reactive sputter magnetron 1-gen-2014 Macchi, C; Burgi, J; Garcıa Molleja, J; Mariazzi, S; Piccoli, Mattia; Bemporad, Edoardo; Feugeas, J; Sennen Brusa, R; Somoza, A.
Effect of micro-droplets on the local residual stress field in CAE-PVD thin coatings 1-gen-2013 Sebastiani, Marco; Piccoli, Mattia; Bemporad, Edoardo
Effect of micro-droplets on the local residual stress field in CAE-PVD thin coatings 1-gen-2012 Sebastiani, Marco; Piccoli, Mattia; DE FELICIS, Daniele; Bemporad, Edoardo
Produzione e caratterizzazione di rivestimenti in nitruro di alluminio su leghe di alluminio 1-gen-2012 Piccoli, Mattia; Sebastiani, Marco; Renzelli, Marco; Bemporad, Edoardo
Stability of expanded austenite, generated by ion carburizing and ion nitriding of AISI 316L SS, under high temperature and high energy pulsed ion beam irradiation 1-gen-2012 García Molleja, J; Milanese, M; Piccoli, Mattia; Moroso, R; Niedbalski, J; Nosei, L; Bürgia, J; Bemporad, Edoardo; Feugeas, J.
Synchrotron Radiation Applied to Real-Time Studies of the Kinetics of Growth of Aluminum Nitride Thin Multilayers 1-gen-2019 García Molleja, J.; Bürgi, J.; Kellermann, G.; Craievich, A.; Neuenschwander, R.; Jouan, P. -Y.; Djouadi, M. A.; Piccoli, M.; Bemporad, E.; De Felicis, D.; Feugeas, J. N.