SCHIRRIPA SPAGNOLO, G. (1996). Electronic speckle pattern interferometry: an aid in cultural heritage protection. In Trends in Optics. SAN DIEGO : ACADEMIC PRESS [10.1016/S0079-6638(08)70530-4].
Electronic speckle pattern interferometry: an aid in cultural heritage protection
SCHIRRIPA SPAGNOLO, Giuseppe
1996-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.