Bemporad, E., Sebastiani, M., Palmieri, V., Deambrosis, S. (2009). Integrated approach for high resolution surface characterization: coupling focused ion beam with micro and nano mechanical tests.
Integrated approach for high resolution surface characterization: coupling focused ion beam with micro and nano mechanical tests
BEMPORAD, Edoardo;SEBASTIANI, MARCO;
2009-01-01
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