Sebastiani, M., Bemporad, E., Carassiti, F., Schwarzer, N. (2009). Residual stress measurement at the micrometre scale: Focused Ion Beam (FIB) milling and nanoindentation testing.
Residual stress measurement at the micrometre scale: Focused Ion Beam (FIB) milling and nanoindentation testing
SEBASTIANI, MARCO;BEMPORAD, Edoardo;
2009-01-01
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