Sebastiani, M., Bemporad, E., Carassiti, F., Schwarzer, N. (2009). High resolution stress measurement and nanomechanical characterization of thin coatings by Focused Ion Beam (FIB) milling and nanoindentation testing.
High resolution stress measurement and nanomechanical characterization of thin coatings by Focused Ion Beam (FIB) milling and nanoindentation testing
SEBASTIANI, MARCO;BEMPORAD, Edoardo;
2009-01-01
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