SCHIRRIPA SPAGNOLO, G. (2001)Metodo e sistema optoelettronico per la misura in situ di microdeformazioni della superficie di oggetti. . Brevetto No. RM2001 A 000287.
Metodo e sistema optoelettronico per la misura in situ di microdeformazioni della superficie di oggetti
SCHIRRIPA SPAGNOLO, Giuseppe
2001-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.