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Optical critical points of SixGe1-x-ySnyalloys with high Si content
2017-01-01 Fischer, Inga A.; Berrier, Audrey; Hornung, Florian; Oehme, Michael; Zaumseil, Peter; Capellini, Giovanni; Von Den Driesch, Nils; Buca, Dan; Schulze, Jã¶rg
Photoluminescence of phosphorus atomic layer doped Ge grown on Si
2017-01-01 Yamamoto, Yuji; Nien, Li wei; Capellini, Giovanni; Virgilio, Michele; Costina, Ioan; Schubert, Markus Andreas; Seifert, Winfried; Srinivasan, Ashwyn; Loo, Roger; Scappucci, Giordano; Sabbagh, Diego; Hesse, Anne; Murota, Junichi; Schroeder, Thomas; Tillack, Bernd
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Optical critical points of SixGe1-x-ySnyalloys with high Si content | 1-gen-2017 | Fischer, Inga A.; Berrier, Audrey; Hornung, Florian; Oehme, Michael; Zaumseil, Peter; Capellini, Giovanni; Von Den Driesch, Nils; Buca, Dan; Schulze, Jã¶rg | |
| Photoluminescence of phosphorus atomic layer doped Ge grown on Si | 1-gen-2017 | Yamamoto, Yuji; Nien, Li wei; Capellini, Giovanni; Virgilio, Michele; Costina, Ioan; Schubert, Markus Andreas; Seifert, Winfried; Srinivasan, Ashwyn; Loo, Roger; Scappucci, Giordano; Sabbagh, Diego; Hesse, Anne; Murota, Junichi; Schroeder, Thomas; Tillack, Bernd |
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