Synchrotron radiation FT-IR micro-spectroscopy on natural layer-silicates in the OH-stretching region

Piccinini, M; Cibin, G; Marcelli, A; Mottana, A; DELLA VENTURA, Giancarlo; Bellatreccia, Fabio

doi:10.1016/j.infrared.2006.01.014

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.

Synchrotron radiation FTIR polarized micro-spectroscopy has been used to investigate natural mica crystals in order to characterize the stretching vibrations of the OH groups and their orientation relative to the mica cleavage (001) plane. A procedure to eliminate undesired interference fringes, typically observed when working with thin single-crystals, was set up using an ad hoe sample preparation, and tested. The naturally high brilliance and high polarization properties of synchrotron radiation allows to study very small flakes and hence offers new analytical possibilities in comparison to conventional powder FTIR spectroscopy.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11590/117349

Titolo:	Synchrotron radiation FT-IR micro-spectroscopy on natural layer-silicates in the OH-stretching region
Autori:	PICCININI M CIBIN G MARCELLI A MOTTANA A DELLA VENTURA, Giancarlo BELLATRECCIA, FABIO mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2006
Rivista:	INFRARED PHYSICS & TECHNOLOGY
Abstract:	Synchrotron radiation FTIR polarized micro-spectroscopy has been used to investigate natural mica crystals in order to characterize the stretching vibrations of the OH groups and their orientation relative to the mica cleavage (001) plane. A procedure to eliminate undesired interference fringes, typically observed when working with thin single-crystals, was set up using an ad hoe sample preparation, and tested. The naturally high brilliance and high polarization properties of synchrotron radiation allows to study very small flakes and hence offers new analytical possibilities in comparison to conventional powder FTIR spectroscopy.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/117349
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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