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Thick epitaxial multilayer silicene films with a √3×√3R(30°) surface structure
show only mild surface oxidation after 24 h in air, as measured by Auger
electron spectroscopy. X-ray diffraction and Raman spectroscopy measurements
performed in air without any protective capping, as well as, for comparison, with
a thin Al2O3 cap, showed the (002) reflection and the G, D and 2D Raman
structures, which are unique fingerprints of thick multilayer silicene.
De Padova, P., Ottaviani, C., Quaresima, C., Olivieri, B., Imperatori, P., Salomon, E., et al. (2014). 24 H Stability of Thick Multilayer Silicene in Air. 2D MATERIALS, 1 [10.1088/2053-1583/1/2/021003].
24 H Stability of Thick Multilayer Silicene in Air
De Padova P.;Ottaviani C.;Quaresima C.;Olivieri B.;Imperatori P.;Salomon E.;Angot T.;Quagliano L.;ROMANO C;Vona A.;Muniz-Miranda M.;Generosi A.;Paci B.;Le Lay G.
2014-01-01
Abstract
Thick epitaxial multilayer silicene films with a √3×√3R(30°) surface structure
show only mild surface oxidation after 24 h in air, as measured by Auger
electron spectroscopy. X-ray diffraction and Raman spectroscopy measurements
performed in air without any protective capping, as well as, for comparison, with
a thin Al2O3 cap, showed the (002) reflection and the G, D and 2D Raman
structures, which are unique fingerprints of thick multilayer silicene.
De Padova, P., Ottaviani, C., Quaresima, C., Olivieri, B., Imperatori, P., Salomon, E., et al. (2014). 24 H Stability of Thick Multilayer Silicene in Air. 2D MATERIALS, 1 [10.1088/2053-1583/1/2/021003].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/118849
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
