Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

Tormen, M., De Salvador, D., Natali, M., Drigo, A., Romanato, F., Rossetto, G., et al. (1999). Bond length variation in In0.25Ga0.75As/InP epitaxial layers thicker than the critical thickness. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 86(5), 2533-2539 [10.1063/1.371088].

Bond length variation in In0.25Ga0.75As/InP epitaxial layers thicker than the critical thickness

MOBILIO, Settimio
1999-01-01
1999
Tormen, M., De Salvador, D., Natali, M., Drigo, A., Romanato, F., Rossetto, G., et al. (1999). Bond length variation in In0.25Ga0.75As/InP epitaxial layers thicker than the critical thickness. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 86(5), 2533-2539 [10.1063/1.371088].
1.1 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/121981
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 26
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 24
social impact