Meneghini, C., Mobilio, S., Pivetti, F., Selmi, I., Prudenziati, M., Morten, B. (1999). RuO2-based thick film resistors studied by extended x-ray absorption spectroscopy. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 86(7), 3590-3593 [10.1063/1.371263].

RuO2-based thick film resistors studied by extended x-ray absorption spectroscopy

MENEGHINI, CARLO;MOBILIO, Settimio;
1999-01-01

1999
Meneghini, C., Mobilio, S., Pivetti, F., Selmi, I., Prudenziati, M., Morten, B. (1999). RuO2-based thick film resistors studied by extended x-ray absorption spectroscopy. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 86(7), 3590-3593 [10.1063/1.371263].
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