AMORPHOUS HYDROGENATED ALLOYS - A COMPARATIVE EXAFS STUDY OF A-SI1-XCX-H, A-SI1-XGEX-H, A-SINX-H AT THE SILICON K-EDGE

Filipponi, A; Fiorini, P; Evangelisti, F; Balerna, A; Mobilio, Settimio

doi:10.1051/jphyscol:1986870

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.

AMORPHOUS HYDROGENATED ALLOYS - A COMPARATIVE EXAFS STUDY OF A-SI1-XCX-H, A-SI1-XGEX-H, A-SINX-H AT THE SILICON K-EDGE / FILIPPONI A; FIORINI P; EVANGELISTI F; BALERNA A; MOBILIO S. - In: JOURNAL DE PHYSIQUE. - ISSN 0302-0738. - 47:C-8(1986), pp. 357-361.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11590/132370

Titolo:	AMORPHOUS HYDROGENATED ALLOYS - A COMPARATIVE EXAFS STUDY OF A-SI1-XCX-H, A-SI1-XGEX-H, A-SINX-H AT THE SILICON K-EDGE
Autori:	FILIPPONI A FIORINI P EVANGELISTI F BALERNA A MOBILIO, Settimio mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1986
Rivista:	JOURNAL DE PHYSIQUE
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/132370
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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