Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.
EnglishA contouring technique based upon multiple source sandwich speckle photographyis described for measurements of relatively large rms surface roughness. An image processing system for automatic analysis of speckle pattern visibility is used. Some experimental results obtained on plane surfaces of different roughnesses are reported.
PAOLETTI D, & SCHIRRIPA SPAGNOLO G (1991). Multiple Source Sandwich Speckle Photography For Measurement of Surface Roughness. INDUSTRIAL METROLOGY, 1, 343-352 [10.1016/0921-5956(91)80016-9].
| Titolo: | Multiple Source Sandwich Speckle Photography For Measurement of Surface Roughness | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 1991 | |
| Rivista: | ||
| Citazione: | PAOLETTI D, & SCHIRRIPA SPAGNOLO G (1991). Multiple Source Sandwich Speckle Photography For Measurement of Surface Roughness. INDUSTRIAL METROLOGY, 1, 343-352 [10.1016/0921-5956(91)80016-9]. | |
| Abstract: | A contouring technique based upon multiple source sandwich speckle photographyis described for measurements of relatively large rms surface roughness. An image processing system for automatic analysis of speckle pattern visibility is used. Some experimental results obtained on plane surfaces of different roughnesses are reported. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/132804 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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