Color-center waveguides in low-energy electron-bombarded lithium fluoride

Rocchetti, A; Assanto, Gaetano; Montereali, Rm; Nichelatti, E; Somma, Fabrizia

doi:10.1063/1.2218039

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.

We employ a differential version of m-line spectroscopy through grating coupling in order to measure the refractive index of low-energy electron irradiated lithium fluoride crystal channel waveguides for broadband emission. Using photoresist films and a holographic setup for grating fabrication, we perform an accurate characterization of bidimensional structures and a direct quantitative comparison between treated and blank materials.

Rocchetti A, Assanto G, Montereali RM, Nichelatti E, & Somma F (2006). Color-center waveguides in low-energy electron-bombarded lithium fluoride. APPLIED PHYSICS LETTERS, 88(26) [10.1063/1.2218039].

Titolo:	Color-center waveguides in low-energy electron-bombarded lithium fluoride
Autori:	Rocchetti A ASSANTO, GAETANO Montereali RM Nichelatti E SOMMA, Fabrizia mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2006
Rivista:	APPLIED PHYSICS LETTERS
Citazione:	Rocchetti A, Assanto G, Montereali RM, Nichelatti E, & Somma F (2006). Color-center waveguides in low-energy electron-bombarded lithium fluoride. APPLIED PHYSICS LETTERS, 88(26) [10.1063/1.2218039].
Abstract:	We employ a differential version of m-line spectroscopy through grating coupling in order to measure the refractive index of low-energy electron irradiated lithium fluoride crystal channel waveguides for broadband emission. Using photoresist films and a holographic setup for grating fabrication, we perform an accurate characterization of bidimensional structures and a direct quantitative comparison between treated and blank materials.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/133307
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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http://hdl.handle.net/11590/133307

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