Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.
EnglishThis design note describes an optoelectronic technique able to obtain the surface topography. The sensor is based on a new fringe projection system, which uses a phase diffraction grating. The proposed system is simple, compact, robust and easy to use.
SCHIRRIPA SPAGNOLO G, & AMBROSINI D (2001). Surface contouring by diffractive optical element-based fringe projection. MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, 12, N6-N8 [10.1088/0957-0233/12/1/402].
| Titolo: | Surface contouring by diffractive optical element-based fringe projection | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2001 | |
| Rivista: | ||
| Citazione: | SCHIRRIPA SPAGNOLO G, & AMBROSINI D (2001). Surface contouring by diffractive optical element-based fringe projection. MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, 12, N6-N8 [10.1088/0957-0233/12/1/402]. | |
| Abstract: | This design note describes an optoelectronic technique able to obtain the surface topography. The sensor is based on a new fringe projection system, which uses a phase diffraction grating. The proposed system is simple, compact, robust and easy to use. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/134484 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
http://hdl.handle.net/11590/134484
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