Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
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EnglishSchirone L, Sotgiu G, Parisini A, & Montecchi M (1997). Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices. DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA, 54, 59-64.
| Titolo: | Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1997 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Schirone L, Sotgiu G, Parisini A, & Montecchi M (1997). Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices. DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA, 54, 59-64. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/135910 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11590/135910
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