Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices

Schirone, L; Sotgiu, Giovanni; Parisini, A; Montecchi, M.

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

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Schirone L, Sotgiu G, Parisini A, & Montecchi M (1997). Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices. DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA, 54, 59-64.

Titolo:	Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices
Autori:	Schirone L SOTGIU, Giovanni Parisini A Montecchi M. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1997
Rivista:	DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA
Citazione:	Schirone L, Sotgiu G, Parisini A, & Montecchi M (1997). Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices. DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA, 54, 59-64.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/135910
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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http://hdl.handle.net/11590/135910

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