Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.
EnglishOptical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices / Schirone L; Sotgiu G; Parisini A; Montecchi M. - In: DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA. - ISSN 1012-0394. - 54(1997), pp. 59-64.
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http://hdl.handle.net/11590/135910| Titolo: | Optical and morphological properties of stain-etched porous silicon films for anti-reflection coatings of photovoltaic devices |
| Autori interni: | SOTGIU, Giovanni |
| Data di pubblicazione: | 1997 |
| Rivista: | DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART B, SOLID STATE PHENOMENA |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/135910 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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