Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

Terrasi, A., La Via, F., D'Acapito, F., Mobilio, S. (1997). EXAFS investigation of Co sites in CoSi2 film grown by ion beam-assisted deposition. MICROELECTRONIC ENGINEERING, 37-8(1-4), 491-497 [10.1016/S0167-9317(97)00151-2].

EXAFS investigation of Co sites in CoSi2 film grown by ion beam-assisted deposition

MOBILIO, Settimio
1997-01-01
1997
Terrasi, A., La Via, F., D'Acapito, F., Mobilio, S. (1997). EXAFS investigation of Co sites in CoSi2 film grown by ion beam-assisted deposition. MICROELECTRONIC ENGINEERING, 37-8(1-4), 491-497 [10.1016/S0167-9317(97)00151-2].
1.1 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/144814
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 3
social impact