Meneghini, C., Mobilio, S., F., P., I., S., M., P., B., M. (1999). ruthenium dioxide-based thick film resistors: an EXAFS study. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 86, 3590-3593.
ruthenium dioxide-based thick film resistors: an EXAFS study
MENEGHINI, CARLO;MOBILIO, Settimio;
1999-01-01
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