L’analisi mineralogica semiquantitativa di campioni di suolo ricchi in componente argillosa consente di ricavare stime dell’abbondanza percentuale dei minerali argillosi presenti. Non deve essere considerata come un mezzo per determinare le quantità assolute di minerali in un determinato campione, quanto piuttosto, un “ottimo” metodo per monitorare le variazioni quantitative degli stessi minerali in sequenze di campioni.E’ opportuno evitare che il campione venga sottoposto a trattamenti invasivi come attacco acido, macinazione spinta, sonicazione e uso di disperdenti che potrebbero modificare la composizione e/o la struttura dei minerali e quindi alterare il tracciato diffrattometrico. L’analisi semiquantitativa viene generalmente eseguita sul tracciato diffrattometrico della frazione granulometrica <2µm (diametro di una sfera equivalente) del preparato orientato dopo solvatazione con glicole etilenico.

Giampaolo, C., LO MASTRO, S., Aldega, L. (2005). Metodo Ufficiale n°IV.2 - Diffrattometria a raggi X. Analisi mineralogica semiquantitativa, 79 del 06-04-2005, Supplemento ordinario n. 60, 36-41.

Metodo Ufficiale n°IV.2 - Diffrattometria a raggi X. Analisi mineralogica semiquantitativa

GIAMPAOLO, Ciriaco;LO MASTRO, SERGIO;ALDEGA, Luca
2005-01-01

Abstract

L’analisi mineralogica semiquantitativa di campioni di suolo ricchi in componente argillosa consente di ricavare stime dell’abbondanza percentuale dei minerali argillosi presenti. Non deve essere considerata come un mezzo per determinare le quantità assolute di minerali in un determinato campione, quanto piuttosto, un “ottimo” metodo per monitorare le variazioni quantitative degli stessi minerali in sequenze di campioni.E’ opportuno evitare che il campione venga sottoposto a trattamenti invasivi come attacco acido, macinazione spinta, sonicazione e uso di disperdenti che potrebbero modificare la composizione e/o la struttura dei minerali e quindi alterare il tracciato diffrattometrico. L’analisi semiquantitativa viene generalmente eseguita sul tracciato diffrattometrico della frazione granulometrica <2µm (diametro di una sfera equivalente) del preparato orientato dopo solvatazione con glicole etilenico.
2005
Giampaolo, C., LO MASTRO, S., Aldega, L. (2005). Metodo Ufficiale n°IV.2 - Diffrattometria a raggi X. Analisi mineralogica semiquantitativa, 79 del 06-04-2005, Supplemento ordinario n. 60, 36-41.
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