Sebastiani, M., Eberl, C., Bemporad, E., Pharr, G.m. (2011). Innovative FIB relaxation methods for residual stress depth profiling in thin coatings.
Innovative FIB relaxation methods for residual stress depth profiling in thin coatings
SEBASTIANI, MARCO;BEMPORAD, Edoardo;
2011-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.