Sebastiani, M., Eberl, C., Bemporad, E., Pharr, G.m. (2011). Innovative FIB relaxation methods for residual stress depth profiling in thin coatings.

Innovative FIB relaxation methods for residual stress depth profiling in thin coatings

SEBASTIANI, MARCO;BEMPORAD, Edoardo;
2011-01-01

2011
Sebastiani, M., Eberl, C., Bemporad, E., Pharr, G.m. (2011). Innovative FIB relaxation methods for residual stress depth profiling in thin coatings.
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