Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon

Agnes, P.; Albuquerque, I. F. M.; Alexander, T.; Alton, A. K.; Asner, D. M.; Back, H. O.; Baldin, B.; Biery, K.; Bocci, V.; Bonfini, G.; Bonivento, W.; Bossa, M.; Bottino, B.; Brigatti, A.; Brodsky, J.; Budano, Federico; Bussino, Severino Angelo Maria; Cadeddu, M.; Cadoni, M.; Calaprice, F.; Canci, N.; Candela, A.; Caravati, M.; Cariello, M.; Carlini, M.; Catalanotti, S.; Cavalcante, P.; Chepurnov, A.; Cicalò, C.; Cocco, A. G.; Covone, G.; D'Angelo, D.; D'Incecco, M.; Davini, S.; Cecco, S. De; Deo, M. De; Vincenzi, M. De; Derbin, A.; Devoto, A.; Eusanio, F. Di; Pietro, G. Di; Dionisi, C.; Edkins, E.; Empl, A.; Fan, A.; Fiorillo, G.; Fomenko, K.; Forster, G.; Franco, D.; Gabriele, F.; Galbiati, C.; Giagu, S.; Giganti, C.; Giovanetti, G. K.; Goretti, A. M.; Granato, F.; Gromov, M.; Guan, M.; Guardincerri, Y.; Hackett, B. R.; Herner, K.; Hughes, D.; Humble, P.; Hungerford, E. V.; Ianni, A.; James, Irina; Johnson, T. N.; Jollet, C.; Keeter, K.; Kendziora, C. L.; Koh, G.; Korablev, D.; Korga, G.; Kubankin, A.; Li, X.; Lissia, M.; Loer, B.; Lombardi, P.; Longo, G.; Ma, Y.; Machulin, I. N.; Mandarano, A.; Mari, Stefano Maria; Maricic, J.; Marini, L.; Martoff, C. J.; Meregaglia, A.; Meyers, P. D.; Milincic, R.; Miller, J. D.; Montanari, D.; Monte, A.; Mount, B. J.; Muratova, V. N.; Musico, P.; Napolitano, J.; Agasson, A. Navrer; Odrowski, S.; Oleinik, A.; Orsini, M.; Ortica, F.; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Pantic, E.; Parmeggiano, S.; Pelczar, K.; Pelliccia, N.; Pocar, A.; Pordes, S.; Pugachev, D. A.; Qian, H.; Randle, K.; Ranucci, G.; Razeti, M.; Razeto, A.; Reinhold, B.; Renshaw, A. L.; Rescigno, M.; Riffard, Q.; Romani, A.; Rossi, B.; Rossi, N.; Rountree, D.; Sablone, D.; Saggese, P.; Sands, W.; Savarese, C.; Schlitzer, B.; Segreto, E.; Semenov, D. A.; Shields, E.; Singh, P. N.; Skorokhvatov, M. D.; Smirnov, O.; Sotnikov, A.; Stanford, C; Suvorov, Y.; Tartaglia, R.; Tatarowicz, J.; Testera, G.; Tonazzo, A.; Trinchese, P.; Unzhakov, E. V.; Verducci, M.; Vishneva, A.; Vogelaar, B.; Wada, M.; Walker, S.; Wang, H.; Wang, Y.; Watson, A. W.; Westerdale, S.; Wilhelmi, J.; Wojcik, M. M.; Xiang, X.; Xiao, X.; Xu, J.; Yang, C.; Zhong, W.; Zhu, C.; Zuzel, G.

doi:10.1088/1748-0221/12/01/P01021

Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the 222Rn decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a ∼2% increase in light yield compared to alphas in no field.

Agnes, P., Albuquerque, I.F.M., Alexander, T., Alton, A.K., Asner, D.M., Back, H.O., et al. (2017). Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon. JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 12(1), P01021-P01021 [10.1088/1748-0221/12/01/P01021].