L., D.G., A., N., Evangelisti, F., E., P., S., P., J., S. (2002). X-ray scanning microscope study of strain instabilities in low mismatched SiGe alloys grown on Si(001) substrates. SOLID STATE COMMUNICATIONS, 122, 359-362.
X-ray scanning microscope study of strain instabilities in low mismatched SiGe alloys grown on Si(001) substrates
EVANGELISTI, Florestano;
2002-01-01
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