DI GASPARE, L., G., C., C., C., M., S., AND F., E. (1996). Low energy yield spectroscopy determination of band offsets: application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure. APPLIED SURFACE SCIENCE, 104-105, 595 [10.1016/S0169-4332(96)00208-5].
Low energy yield spectroscopy determination of band offsets: application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure
DI GASPARE, LUCIANA;
1996-01-01
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