Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100)

Palange, E.; Capellini, G.; Di Gaspare, Luciana; Evangelisti, And F.

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E. PALANGE, G. CAPELLINI, DI GASPARE L, & AND F. EVANGELISTI (1996). Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100). APPLIED PHYSICS LETTERS, 68, 2982.

Titolo:	Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100)
Autori:	E. PALANGE G. CAPELLINI DI GASPARE, LUCIANA AND F. EVANGELISTI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1996
Rivista:	APPLIED PHYSICS LETTERS
Citazione:	E. PALANGE, G. CAPELLINI, DI GASPARE L, & AND F. EVANGELISTI (1996). Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100). APPLIED PHYSICS LETTERS, 68, 2982.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/134558
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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http://hdl.handle.net/11590/134558

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