Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100)

Palange, E.; Capellini, G.; DI GASPARE, Luciana; Evangelisti, AND F.

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Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100) / E. PALANGE; G. CAPELLINI; DI GASPARE L; AND F. EVANGELISTI. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 68(1996), p. 2982.

Titolo:	Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100)
Autori:	E. PALANGE G. CAPELLINI DI GASPARE, LUCIANA AND F. EVANGELISTI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1996
Rivista:	APPLIED PHYSICS LETTERS
Citazione:	Atomic Force Microscopy and photoluminescence study of Ge layers and self-organized Ge quantum dots on Si(100) / E. PALANGE; G. CAPELLINI; DI GASPARE L; AND F. EVANGELISTI. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 68(1996), p. 2982.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/134558
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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http://hdl.handle.net/11590/134558

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