M., S., DI GASPARE, L., G., C., C. BITTENCOURT AND F., E. (1995). Low energy yield spectroscopy as a novel technique for determining band offsets: application to the c-Si/a-Si:H heterostructure. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 75, 3352.
Low energy yield spectroscopy as a novel technique for determining band offsets: application to the c-Si/a-Si:H heterostructure
DI GASPARE, LUCIANA;
1995-01-01
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