Digaspare, L., Capellini, G., Chudoba, C., Sebastiani, M., Evangelisti, F. (1996). Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure. APPLIED SURFACE SCIENCE, 104, 595-600 [10.1016/S0169-4332(96)00208-5].

Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure

EVANGELISTI, Florestano
1996-01-01

Digaspare, L., Capellini, G., Chudoba, C., Sebastiani, M., Evangelisti, F. (1996). Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure. APPLIED SURFACE SCIENCE, 104, 595-600 [10.1016/S0169-4332(96)00208-5].
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