Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
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EnglishDiGaspare L, Capellini G, Chudoba C, Sebastiani M, & Evangelisti F (1996). Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure. APPLIED SURFACE SCIENCE, 104, 595-600 [10.1016/S0169-4332(96)00208-5].
| Titolo: | Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 1996 | |
| Rivista: | ||
| Citazione: | DiGaspare L, Capellini G, Chudoba C, Sebastiani M, & Evangelisti F (1996). Low-energy yield spectroscopy determination of band offsets: Application to the epitaxial Ge/Si(100) heterostructure. APPLIED SURFACE SCIENCE, 104, 595-600 [10.1016/S0169-4332(96)00208-5]. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/144091 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11590/144091
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