Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
We fabricated strongly confined Schottky-gated quantum point contacts by etching Si/SiGe heterostructures and observed intriguing conductance quantization in units of approximately 1e(2)/h. Nonlinear conductance measurements were performed depleting the quantum point contacts at fixed mode-energy separation. We report evidence of the formation of a half 1e(2)/h plateau, supporting the speculation that adiabatic transmission occurs through one-dimensional modes with complete removal of valley and spin degeneracies.
Scappucci G, Di Gaspare L, Giovine E, Notargiacomo A, Leoni R, & Evangelisti F (2006). Conductance quantization in etched Si/SiGe quantum point contacts. PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS, 74(3) [10.1103/PhysRevB.74.035321].
Conductance quantization in etched Si/SiGe quantum point contacts
Scappucci G;DI GASPARE, LUCIANA;Giovine E;Notargiacomo A;Leoni R;Evangelisti F.
2006
Abstract
We fabricated strongly confined Schottky-gated quantum point contacts by etching Si/SiGe heterostructures and observed intriguing conductance quantization in units of approximately 1e(2)/h. Nonlinear conductance measurements were performed depleting the quantum point contacts at fixed mode-energy separation. We report evidence of the formation of a half 1e(2)/h plateau, supporting the speculation that adiabatic transmission occurs through one-dimensional modes with complete removal of valley and spin degeneracies.
Scappucci G, Di Gaspare L, Giovine E, Notargiacomo A, Leoni R, & Evangelisti F (2006). Conductance quantization in etched Si/SiGe quantum point contacts. PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS, 74(3) [10.1103/PhysRevB.74.035321].
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11590/155522
Citazioni
ND
18
16
social impact
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2021-2023 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
