DI GASPARE, L., Evangelisti, A.N.O.T.A.R.G.I.A.C.O.M.O.F., E., P., S., P., AND J., S. (2002). 'X-ray scanning microscope study of strain instabilities in low mismatched SiGe alloys grown on Si(001) substrates. SOLID STATE COMMUNICATIONS, 122, 359.
'X-ray scanning microscope study of strain instabilities in low mismatched SiGe alloys grown on Si(001) substrates
DI GASPARE, LUCIANA;
2002-01-01
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