E., P., DI GASPARE, L., F., E. (2003). Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrates. THIN SOLID FILMS, 428, 160.
Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrates
DI GASPARE, LUCIANA;
2003-01-01
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