E., P., DI GASPARE, L., F., E. (2003). Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrates. THIN SOLID FILMS, 428, 160.

Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrates

DI GASPARE, LUCIANA;
2003-01-01

2003
E., P., DI GASPARE, L., F., E. (2003). Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrates. THIN SOLID FILMS, 428, 160.
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