Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
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EnglishJonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].
| Titolo: | Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2011 | |
| Serie: | ||
| Citazione: | Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316]. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/171726 | |
| ISBN: | 978-081948794-0 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11590/171726
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