Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers

Jonnard, P.; Le Guen, K.; M. H., Hu; André, J. M.; Zhou, S. K.; H. C. h., Li; Zhu, J. T.; Wang, Z. S.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Verna, Adriano; Meny, C.; Galtayries, A.; Estève, I.; Walls, M.

doi:10.1117/12.895316

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

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Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].

Titolo:	Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers
Autori:	Jonnard, P. Le Guen, K. Hu, M. H. André, J. M. Zhou, S. K. Li, H. C.h. Zhu, J. T. Wang, Z. S. Mahne, N. Giglia, A. Nannarone, S. VERNA, ADRIANO Meny, C. Galtayries, A. Estève, I. Walls, M. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2011
Serie:	PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
Citazione:	Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/171726
ISBN:	978-081948794-0
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

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http://hdl.handle.net/11590/171726

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