Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].

Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers

VERNA, ADRIANO;
2011-01-01

978-081948794-0
Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].
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