Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].

Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers

VERNA, ADRIANO;
2011-01-01
2011
978-081948794-0
Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV [10.1117/12.895316].
4.1 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/171726
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact