Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers

Jonnard, P.; Le Guen, K.; M. H., Hu; André, J. M.; Zhou, S. K.; H. C. h., Li; Zhu, J. T.; Wang, Z. S.; Mahne, N.; Giglia, A.; Nannarone, S.; Verna, Adriano; Meny, C.; Galtayries, A.; Estève, I.; Walls, M.

doi:10.1117/12.895316

Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo

La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.

Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV.

Titolo:	Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers
Autori:	Jonnard, P. Le Guen, K. Hu, M. H. André, J. M. Zhou, S. K. Li, H. C.h. Zhu, J. T. Wang, Z. S. Mahne, N. Giglia, A. Nannarone, S. VERNA, ADRIANO Meny, C. Galtayries, A. Estève, I. Walls, M. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2011
Serie:	PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
Citazione:	Jonnard, P., Le Guen, K., Hu, M.H., André, J.M., Zhou, S.K., Li, H.C.h., et al. (2011). Optical, chemical, depth and magnetic characterization of Mg/Co based nanometric periodic multilayers. In ADVANCES IN OPTICAL THIN FILMS IV.
Handle:	http://hdl.handle.net/11590/171726
ISBN:	978-081948794-0
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11590/171726

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.