Bemporad, E., Sebastiani, M., Carassiti, F. (2006). HIGH RESOLUTION MORPHOLOGICAL AND MECHANICAL CHARACTERIZATION OF NIOBIUM FILMS OBTAINED BY MS AND BIASED MS PVD. In Thin films and new ideas for pushing the limits of RF Superconductivity. Padova. 9-12 Ottobre 2006.
HIGH RESOLUTION MORPHOLOGICAL AND MECHANICAL CHARACTERIZATION OF NIOBIUM FILMS OBTAINED BY MS AND BIASED MS PVD
BEMPORAD, Edoardo;SEBASTIANI, MARCO;
2006-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
