SCHIRRIPA SPAGNOLO, G., Guattari, G., Sapia, C., Accardo, G., Ambrosini, D., Paoletti, D. (2000). High-resolution Fourier transform profilometry in artwork surface inspection. In Trends in Optical Nondestructive Testing.

High-resolution Fourier transform profilometry in artwork surface inspection

SCHIRRIPA SPAGNOLO, Giuseppe;SAPIA, Carmine;
2000-01-01

0080430201
SCHIRRIPA SPAGNOLO, G., Guattari, G., Sapia, C., Accardo, G., Ambrosini, D., Paoletti, D. (2000). High-resolution Fourier transform profilometry in artwork surface inspection. In Trends in Optical Nondestructive Testing.
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