Sebastiani, M., Bemporad, E., Carassiti, F. (2010). Focused ion beam and nanomechanical testing for high resolution materials chacarterizzation. In 10th Annual Micro Materials European User Meeting 27-28th Oct 2010, Politecnico Milano - Delegate Handbook.
Focused ion beam and nanomechanical testing for high resolution materials chacarterizzation
SEBASTIANI, MARCO;BEMPORAD, Edoardo;
2010-01-01
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