Tricarico, S., Bilotti, F., Vegni, L. (2009). A Genetic Algorithm based procedure to retrieve effective parameters of planar metamaterial samples. In Proceedings of SPIE Europe Optics and Optoelectronics, E00101 Metamaterials IV [10.1117/12.820648].
A Genetic Algorithm based procedure to retrieve effective parameters of planar metamaterial samples
BILOTTI, FILIBERTO;
2009-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.