DI GIULIO, A., N., I., R., R. (2009). UN NUOVO APPROCCIO ALLO STUDIO DI STRUTTURE CUTICOLARI DI INSETTI MEDIANTE FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (FIB/SEM). In XXII Congresso Nazionale Italiano di Entomologia Ancona 15-18 Giugno 2009 Proceedings (pp.errata corrige). FIRENZE : Accademia Nazionale Italiana di Entomologia.

UN NUOVO APPROCCIO ALLO STUDIO DI STRUTTURE CUTICOLARI DI INSETTI MEDIANTE FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (FIB/SEM)

DI GIULIO, ANDREA;
2009-01-01

2009
978-88-96493-00-7
DI GIULIO, A., N., I., R., R. (2009). UN NUOVO APPROCCIO ALLO STUDIO DI STRUTTURE CUTICOLARI DI INSETTI MEDIANTE FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (FIB/SEM). In XXII Congresso Nazionale Italiano di Entomologia Ancona 15-18 Giugno 2009 Proceedings (pp.errata corrige). FIRENZE : Accademia Nazionale Italiana di Entomologia.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/187434
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact