Si espone lo sviluppo e messa in opera di risonatori caricati a dielettrico per misure di impedenza superficiale in film superconduttori. Preceduto da una breve introduzione generale sul metodo di misura a microonde, presentiamo il dettaglio di alcuni risonatori caricati a dielettrico operanti a 8 GHz e 48 GHz, assieme a alcune strategie di misura atte a ridurre il ruolo della calibrazione delle linee di trasmissione, spesso impossibile in ambiente criogenico. Infine, presentiamo alcune misurazioni di impedenza superficiale a basse temperature e in presenza di campi magnetici esterni.

Silva, E., Pompeo, N., Torokhtii, K. (2013). Misura Dell’Impedenza Superficiale Di Superconduttori Mediante Risonatori Caricati A Dielettrico. In Atti del XXX Congresso Nazionale dell’Associazione Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche (pp.297-306).

Misura Dell’Impedenza Superficiale Di Superconduttori Mediante Risonatori Caricati A Dielettrico

SILVA, Enrico;POMPEO, NICOLA;TOROKHTII, KOSTIANTYN
2013-01-01

Abstract

Si espone lo sviluppo e messa in opera di risonatori caricati a dielettrico per misure di impedenza superficiale in film superconduttori. Preceduto da una breve introduzione generale sul metodo di misura a microonde, presentiamo il dettaglio di alcuni risonatori caricati a dielettrico operanti a 8 GHz e 48 GHz, assieme a alcune strategie di misura atte a ridurre il ruolo della calibrazione delle linee di trasmissione, spesso impossibile in ambiente criogenico. Infine, presentiamo alcune misurazioni di impedenza superficiale a basse temperature e in presenza di campi magnetici esterni.
978-88-8443-496-8
Silva, E., Pompeo, N., Torokhtii, K. (2013). Misura Dell’Impedenza Superficiale Di Superconduttori Mediante Risonatori Caricati A Dielettrico. In Atti del XXX Congresso Nazionale dell’Associazione Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche (pp.297-306).
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