Sebastiani, M., Bemporad, E., Carassiti, F., Schwarzer, N. (2009). Residual Stress Measurements at the Micrometric Scale: Focused Ion Beam (FIB) Milling and Nanoindentation Testing for Site-Specific Residual Stress. In VII Convegno INSTM sulla Scienza e Tecnologia dei Materiali, Tirrenia 9-12 giugno 2009 (pp.CO07).
Residual Stress Measurements at the Micrometric Scale: Focused Ion Beam (FIB) Milling and Nanoindentation Testing for Site-Specific Residual Stress
SEBASTIANI, MARCO;
2009-01-01
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