DI GIULIO, A. (2013). Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy: a new powerful tool for investigating insect morphology at micro- and ultra-structural level. In IBM 2013. Presentations, Posters, abstracts.
Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy: a new powerful tool for investigating insect morphology at micro- and ultra-structural level
DI GIULIO, ANDREA
2013-01-01
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