Persichetti, L., Fanfoni, M., De Seta, M., Di Gaspare, L., Ottaviano, L., Goletti, C., et al. (2018). Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers. APPLIED SURFACE SCIENCE, 462, 86-94 [10.1016/j.apsusc.2018.08.075].
Titolo: | Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2018 | |
Rivista: | ||
Citazione: | Persichetti, L., Fanfoni, M., De Seta, M., Di Gaspare, L., Ottaviano, L., Goletti, C., et al. (2018). Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers. APPLIED SURFACE SCIENCE, 462, 86-94 [10.1016/j.apsusc.2018.08.075]. | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11590/338015 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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