Niu, G., Leake, S.J., Skibitzki, O., Niermann, T., Carnis, J., Kießling, F., et al. (2019). Advanced Coherent X-ray Diffraction and Electron Microscopy of Individual InP Nanocrystals on Si Nanotips for III-V-on-Si Electronics and Optoelectronics. PHYSICAL REVIEW APPLIED, 11(6) [10.1103/PhysRevApplied.11.064046].
Advanced Coherent X-ray Diffraction and Electron Microscopy of Individual InP Nanocrystals on Si Nanotips for III-V-on-Si Electronics and Optoelectronics
Capellini, GiovanniMembro del Collaboration Group
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2019-01-01
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