Benvenuti nell'Anagrafe della Ricerca d'Ateneo
La valutazione delle attività di ricerca che si svolgono nelle università ha assunto un'importanza rilevante sia per l'intero sistema universitario sia all'interno di ogni singolo ateneo. Roma Tre si è quindi dotata di idonei strumenti informativi in grado di supportare al meglio le azioni di monitoraggio e di valutazione delle attività di ricerca svolte nei propri dipartimentied ha realizzato una Anagrafe della Ricerca di Ateneo.
EnglishThis paper discusses radiation tests on complex System-on-Chip (SoC) controllers using Low-Energy Protons (LEPs). The aim of this novel set of guidelines is to be also applicable to System In Package (SIP) or hybrid components that are now often used to overcome printed circuit board's real estate restrictions in Hi-Rel electronics.
Furano, G., Di Mascio, S., Szewczyk, T., Menicucci, A., Campajola, L., Di Capua, F., et al. (2016). A novel method for SEE validation of complex SoCs using Low-Energy Proton beams. In 2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2016 (pp.131-134). 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/DFT.2016.7684084].
| Titolo: | A novel method for SEE validation of complex SoCs using Low-Energy Proton beams | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2016 | |
| Citazione: | Furano, G., Di Mascio, S., Szewczyk, T., Menicucci, A., Campajola, L., Di Capua, F., et al. (2016). A novel method for SEE validation of complex SoCs using Low-Energy Proton beams. In 2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2016 (pp.131-134). 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. [10.1109/DFT.2016.7684084]. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11590/398595 | |
| ISBN: | 978-1-5090-3623-3 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11590/398595
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