Corley-Wiciak, C., Zoellner, M.H., Zaitsev, I., Anand, K., Zatterin, E., Yamamoto, Y., et al. (2023). Lattice Deformation at Submicron Scale: X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices. PHYSICAL REVIEW APPLIED, 20(2) [10.1103/PhysRevApplied.20.024056].
Lattice Deformation at Submicron Scale: X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices
Virgilio, M.;Capellini, G.Writing – Original Draft Preparation
2023-01-01
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