Ryzhak, D., Corley-Wiciak, A.A., Steglich, P., Yamamoto, Y., Frigerio, J., Giani, R., et al. (2024). Selective Epitaxy of Germanium on silicon for the fabrication of CMOS compatible short-wavelength infrared photodetectors. MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, 176 [10.1016/j.mssp.2024.108308].

Selective Epitaxy of Germanium on silicon for the fabrication of CMOS compatible short-wavelength infrared photodetectors

De Iacovo, Andrea
Formal Analysis
;
Capellini, Giovanni
Writing – Original Draft Preparation
2024-01-01

2024
Ryzhak, D., Corley-Wiciak, A.A., Steglich, P., Yamamoto, Y., Frigerio, J., Giani, R., et al. (2024). Selective Epitaxy of Germanium on silicon for the fabrication of CMOS compatible short-wavelength infrared photodetectors. MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, 176 [10.1016/j.mssp.2024.108308].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11590/467428
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact