Grange, T., Mukherjee, S., Capellini, G., Montanari, M., Persichetti, L., Di Gaspare, L., et al. (2020). Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering. PHYSICAL REVIEW APPLIED, 13(4), 044062 [10.1103/PhysRevApplied.13.044062].
Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering
Capellini, G.
;Montanari, M.;Persichetti, L.;Di Gaspare, L.;Virgilio, M.;De Seta, M.
2020-01-01
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